AMI-TOP系列

可扩展式比表面积及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0001m²/g-无上限

中值孔径重复性（SD）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%

JW-BK400

高通量比表面积及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0005m2/g-无上限

中值孔径重复性（SD）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%

AMI-300 Lite 基础系列

全自动程序升温化学吸附仪

PD

TPR

TPO

脉冲化学吸附

脉冲校准