JW-BK基础型

比表面及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0005m²/g-无上限

中值孔径重复性（标准偏差）:≤0.02nm

测试重复性（RSD）:±1%

JW-DX

动态比表面积测定仪

氮分压P/P0范围:0.05-0.35

比表面范围:0.01m²/g-无上限

炭黑标准样品重复精度:±1%

测试效率:5min

JW-BK200系列

高性能比表面积及孔径分析仪（双站）

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0001m²/g-无上限

中值孔径重复性（SD）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%