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此类仪器适于只关注小于200m2/g比表面积测试,不关注孔径分析的客户使用,尤其适用于粉体生产厂家的质量控制,其特点是快速,最快平均5分钟测试一个样品。同时,性价比优势突出。
申请测样产品型号 | 工作站数量 | 脱气站数量 | 测试范围 | 测试精度 | 产品详情 | |
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JW-DX动态比表面积测定仪 |
0.35nm-500nm | 0.01m2/g-无上限 | ≤1% | ≤1% | 查看详情 |
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JW-BK400高通量比表面积及孔径分析仪 |
0.35nm-500nm | 0.01m2/g-无上限 | ≤1% | ≤1% | 查看详情 |
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JW-BK基础型比表面及孔径分析仪 |
0.35nm-500nm | 0.01m2/g-无上限 | ≤1% | ≤1% | 查看详情 |
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JW-DA动态氮吸附比表面积测定仪 |
0.35nm-500nm | 0.01m2/g-无上限 | ≤1% | ≤1% | 查看详情 |
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DX 400比表面积分析仪 |
0.35nm-500nm | 0.01m2/g-无上限 | ≤1% | ≤1% | 查看详情 |