JW-TB系列

比表面积及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0005m²/g-无上限

中值孔径重复性（标准偏差）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%

DX 400

比表面积分析仪

测试效率:1小时28个样

比表面范围:0.1m2/g-无上限

比表面积重复性:≤1%

比表面积准确性:≤1%

AMI-300 Lite 基础系列

全自动程序升温化学吸附仪

PD

TPR

TPO

脉冲化学吸附

脉冲校准