JW-BK基础型

比表面及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0005m²/g-无上限

中值孔径重复性（标准偏差）:≤0.02nm

测试重复性（RSD）:±1%

TGA 系列

热重分析仪

温度范围:RT-1500°C

升温速率范围:0.1-300°C/min

称量范围:±200 mg

天平分辨率:0.1 μg

DX 400

比表面积分析仪

测试效率:1小时28个样

比表面范围:0.1m2/g-无上限

比表面积重复性:≤1%

比表面积准确性:≤1%