精微高博公众号
北京精微高博仪器有限公司
Sales@jwgb.net
比表面积分析仪
介孔孔径分析仪
微孔孔径分析仪
化学吸附仪
反应评价装置
蒸汽吸附仪
穿透曲线分析仪
真密度仪
压汞仪
高压吸附仪
热分析仪
X射线衍射仪
脱气机
质谱仪
相关配件
比表面积分析仪
介孔孔径分析仪
微孔孔径分析仪
化学吸附仪
反应评价装置
蒸汽吸附仪
穿透曲线分析仪
真密度仪
压汞仪
高压吸附仪
热分析仪
X射线衍射仪
脱气机
质谱仪
相关配件
Encyclopedia
Encyclopedia
吸附总孔体积:把最高氮气相对压力下的吸附量看成是全部被吸附并填充于孔中,由此计算出的总孔体积,他没有规定孔的下限尺寸,但必须有一个孔径上限的界定,例如,直径300nm以下(P/Po=0.993)所有孔的体积。
查看详情MP法,是利用对应于微孔吸附区间,吸附量与厚度对应的实验点,用每一点的变化率(dV/dt)计算出对应于一定尺寸孔的内表面积,然后通过孔径、内表面、孔容积三者的对应关系,求出孔体积分布。这是在介孔测试数据的基础上,利用t图,向微孔分析方向的延伸,这种方法对微孔的分析范围很窄(最小到0.8nm),而且完全沿用介孔分析的基本假设,比如沿用Kilven方程确定2nm以下孔的尺寸,都是很不严格的。
查看详情根据Dubinin和Radushkevich早期提出的研究活性炭微孔孔隙率的模型,基于Polanyi的温度不变式“特征曲线”的概念,Dubinin等温线可写作对数形式的直线方程: lgV = lgVmicro- D[lg(P/Po)]2
查看详情在测定等温吸附线时,都是用吸附量对相对压力作图,如果用吸附量对吸附层厚度(t)作图,则称为T图。在T图表示的吸附曲线上,单层吸附和多层吸附的速率是不同的,一般认为,单层吸附发生在微孔填充范围,而多层吸附开始时微孔填充已基本结束,此外在T图上,吸附量对厚度的变化率(dV/dt),对应于一定尺寸孔的内表面积,因此利用T图,可以进行外表面测定(STSA)、微孔总孔体积测定(t-图法)、以及进行微孔孔径分布的粗略分析(MP法)。
查看详情过去习惯上选择脱附分支为主,其实是个误区 ,脱附过程,多数情况下都反映了滞后的现实情况,其最可几孔径都向小孔径值偏离 ,脱附分析中,可能出现假峰,例如,活性炭的脱附孔径分析中,在4nm左右,出现一个假峰,其形成原因归结于所谓:张力强度效应 ,吸附过程,除了要注意延迟凝聚现象外,对所有情况都更能真实的反映孔径分布的实况 。
查看详情介孔与大孔的孔径分析是建立在宏观热力学的基础上,主要依据是毛细凝聚理论,计算方法是用凯尔文方程确定与压力对应的孔尺寸,用赫尔塞方程计算吸附层厚度,并假设孔中吸附的氮分子以液氮的密度存在;通过测定的等温吸脱附曲线(通常相对压力范围是10-4~0.995),用逐次计算法计算出孔容-孔径分布、总孔体积和平均孔径,在这中模型的应用中,Barrett、Joyner、Halenda三位科学家对于原有模型计算微小孔吸附层厚度时的几何关系做了精细的修正,因此称为BJH法,BJH(Barrett-Joyner-Halenda)法一直沿用至今,已有60年以上的历史。BJH法介孔与大孔的分析过程可以解析为如下要点:
查看详情孔径的微分分布曲线的一般表达方式是用dV/dD对D作图,表示孔容随孔径变化率的规律,由于孔径的范围很宽,从零点几纳米到几百纳米,一般在十纳米以下,因此横坐标采用对数坐标,有意把纳米范围孔的变化放大,表示的更清晰。从介孔和大孔孔径分析的Kilven方程看,压力与孔径的对应关系,在50纳米以上时,压力变化非常小,例如,P/Po=0.98时,对应孔径约为50nm,当P/Po=0.99时,对应孔径约为100nm,P/Po=0.995是,对应孔径约为400nm,这时每两个测试点之间的孔径间隔(dD)非常大,得到的孔容随孔径的变化率很小,因此,在dV/dD-D曲线上,对于大孔材料的最可几孔径范围不能更清晰的反映出来,为了解决这个问题,提出了dV/d㏒D-D的表示方法,这种方法把大孔范围的孔容孔径变化率加大,因为dV/d㏒D=D·loge·dV/dD≈2.3D·(dV/dD),因此当孔径分布在较大的孔径范围时,例如大于10nm时,在dV/d㏒D-D的图上,其最可几孔径能够更清晰的表示出来。
查看详情再测定等温吸附曲线时发现,当压力升到0.4以上时,被吸附的气体被吸入孔中,并在孔中凝聚为液体,这种现象称为毛细凝聚现象,产生毛细凝聚的压力与孔径有关,当毛细孔直径越小时,可在较低的氮气分压下,形成凝聚液,毛细凝聚现象被用于介孔的测定。
查看详情