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重磅!精微高博DX400比表面积分析仪全新上市!

3月19日,由中国化学与物理电源行业协会主办的“第十四届中国国际电池技术交流会/展览会(CIBF 2021)”在深圳会展中心开幕。
其中,北京精微高博科学技术有限公司(4号馆,4B012展位)作为电池正负极材料表面分析测试解决方案的龙头企业,首次亮相了DX 400动态色谱法比表面积分析仪,本款产品基于吸附法发明专利,实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越。
:可准确测试超小比表面积0.1m2/g的标准样品,精确到0.01m2/g。 
:测试速度是传统产品的4倍,可实现1小时48个标准样品的超高测试效率。
非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料小比表面积样品的测试,产线快速检测的最佳选择!
独有的Dtech技术融合了Dstable稳定测试技术、Dcal自动校正技术、Dtrap精确测试技术、Dsignal高效测试技术及Dctrl防抽飞控制技术,使得DX 400系列的测试效率极高、测试结果的重复性、稳定性、准确性、平行性均达到行业领先水平,尤其是对比表面积小于1 m2/g的样品。
Dstable稳定测试技术
确保仪器测试过程中TCD信号不受液氮面变化的影响,保证测试结果的重复性和稳定性。
Dcal自动校正技术
确保仪器生命周期中TCD信号变化不影响测试结果,保证仪器生命周期中测试结果的重复性和稳定性。
Dtrap精确测试技术
确保测试过程中TCD信号的控制精度达0.1mV,且不受环境影响,保证测试结果的准确性。
Dsignal高效测试技术
实现单点BET测试结果在5min内高效完成,测试效率最高达5min测试4个样品,1小时达48个样品。 
Dctrl防吹飞控制技术
避免测试过程中因样品吹飞导致的仪器气路污染,保护仪器运行安全,延长仪器的生命周期。
如表1选取炭黑G9标样,以标准偏差计算重复性为0.31%,同样石墨样品重复性0.24%,远小于标称指标1%,说明仪器对同一样品反复测试的结果是非常稳定的,在质量控制中,出现需要复检的样品的时,完全有信心排除仪器本身的误差,不会造成误判。
表1. BET比表面积重复性<1%

如表2取钴酸锂样品进行重复性测试,如此的小的比表面积重复性高达0.0033 m2/g,远小于标称0.01 m2/g,完美解决了钴酸锂在测试中,传统仪器本身系统误差在0.05 m2/g以上,对0.1 m2/g的比表面积来说,超过50%以上波动,测试数据无法作为品控依据,新一代的DX400解决了这个老大难问题,实现了超小的波动。
表2. 超小比表面积0.1 m2/g的重复性<0.01m2/g

全新开发的DX 400控制软件是在Windows平台上实现操作控制、数据采集、计算分析和报告预览的智能化软件。测试界面上动态显示每个样品的吸附过程,吸附峰实时显示,每个样品的BET比表面积实时计算。
Message窗口可切换显示,实时记录仪器实验控制过程和软件手动操作信息,方便工程师对异常数据的分析和远程诊断。
现场,因精微高博优质产品而吸引前来驻足的观众络绎不绝,参会者也通过工作人员的介绍而了解到精微高博精湛技术背后的卓尔不凡。

在本次CIBF展会上,精微高博以两款重点产品为主,分别是全新 DX400系列动态色谱法比表面积分析仪,以及去年推出的TB400系列静态容量法比表面积及孔径分析仪。这两款产品双剑合璧,为电池材料研发和生产品控带来不同“维度”的解决方案。
精微高博技术人员向参观者介绍了首次展出的这款DX 400比表面积分析仪,在产线测试中,其测试速度可达1小时48个样,测试精度可达0.01m2/g,属于目前行业的最高水平。

对精微高博来说,用心做好产品,满足市场与客户需求是企业从未改变的初心。未来,精微高博将持续聚焦主航道,抢占战略机会点,引领新能源材料测试产业发展,用更好的产品和多元化的产品解决方案,为行业及客户带来更多可能。

比表面及孔径分析仪

JW-BK100

JW-BK100
 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限 

比表面及孔径分析仪

JW-BK200

JW-BK200

 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

mixSorb系列竞争性吸附仪
穿透曲线测定
多组份气体分离
变压吸附分析(PSA)

比表面及孔径分析仪

JW-BK300

JW-BK300

 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

AMI-300系列化学吸附仪
TPR/TPD/TPO/TPS
催化剂评价
活性位点分析
脉冲滴定

比表面及孔径分析仪

JW-BK400

JW-BK400

 0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

比表面及孔径分析仪

JW-BK基础型

基础型比表面分析仪

0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

400-600-5039