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比表面仪,竞争性吸附仪,绝对密度测试仪专业供应商-精微高博邀您参加2018中国材料大会暨展览会

 

北京精微高博科学技术有限公司是国家高新技术企业,成立于2004年,专业从事氮吸附比表面及孔径分析仪的研发、生产及销售。精微高博是中国新一代动态BET 比表面仪、单气路常压动态孔径分析仪、静态容量法比表面及孔径分析仪、高精度静态微孔分析仪等仪器的原创厂家,具有多项自主知识产权和国家专利,参与国家标准GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》的制定。精微高博是中国氮吸附仪的开拓者、是比表面测试领域的领航者。作为国产吸附仪,产品性能具有国际先进水平。

 

 

 
 
 JW-DX

比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,最常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积.广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。

动态仪器外形尺寸.JPG

JW-BK200C

JW-BK200系列高性能物理吸附仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题,该系列产品根据测试功能不同区分为A、B、C三种型号,其中高端C型研究级设备因双站均配置有超低压1torr或0.1torr压力传感器,及10-8Pa超低真空度涡轮分子泵,可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等多微孔样品的高效率超微孔分析。

 

BK200C渲染图.98.jpg

 

JW-M100A

精微高博公司JW-M100A型全自动气体置换法真密度测试仪,能快速、高精度测量各种粉体、块体等固体材料的真体积及真密度,样品室体积范围1cm3-100cm3,平均完成一次分析约需3min,测试效率高,非常适合质检的快速分析。

 

 

M100A01.jpg


 

精微高博展位:

 

厦门会展中心C2馆E08

 

比表面及孔径分析仪

JW-BK200

JW-BK200

 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

mixSorb系列竞争性吸附仪
穿透曲线测定
多组份气体分离
变压吸附分析(PSA)

全自动真密度仪

JW-M100A

真密度仪

测试精度≤ ± 0.03%

分辨率:0.0001g/ml

重复性≤ ± 1%

动态比表面仪

JW-D系列

动态比表面仪

测试范围:≥0.001m2/g
重复精度:±1.0%
同时进行4个被测样品测试
平均每个样品5min

 

 

400-600-5039