材料分析 行业应用 直播/活动 精微百科 用户论文

精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会

1.png

精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会

5月22-24日,CIBF第十三届中国国际电池技术交流会将于深圳会展中心开幕,北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪亮相。

 

JW-BK200C是一款研究级高性能双站比表面及微孔分析仪,非常适合炭材料、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。具有两个完全独立的微孔孔径分布分析站,可同时测试。此产品测试技术达到国际先进水平.


2.png

孔径范围  0.35-500nm

比表面测试范围 >0.0001m2/g

中值孔径重复精度 <0.02nm

比表面重复精度  ±1%

 

电池材料专用产品JW-DX

 

JW-DX是目前国内外唯一一款采用吸附方法来测试BET比表面积的流动色谱法比表面分析仪器,能显著提高电池材料、医药辅料、无机粉体材料及各种粉体材料的比表面测定水平。每个样品独立进行吸附,测试精准。

3.png

氮分压P/P0范围  0.05-0.35

比表面测试范围 >0.01m2/g

测试重复精度  ±1%

测试效率  5min

参观指南

时间:2018年5月22日-24日

地点:深圳市福田中心区福华三路深圳会展中心,我们在8号馆等您哦

 

 

精微高博展位号:8B041


4.png

联系我们

北京经济技术开发区科创十三街12号德为科技园5号楼2层

联系电话:4006005039

 

www.jwgb.net

比表面及孔径分析仪

JW-BK200

JW-BK200

 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
2nm-500nm(介孔及大孔分析)
0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
孔体积0.0001cm3/g-至无上限

 

 

mixSorb系列竞争性吸附仪
穿透曲线测定
多组份气体分离
变压吸附分析(PSA)

全自动真密度仪

JW-M100A

真密度仪

测试精度≤ ± 0.03%

分辨率:0.0001g/ml

重复性≤ ± 1%

动态比表面仪

JW-D系列

动态比表面仪

测试范围:≥0.001m2/g
重复精度:±1.0%
同时进行4个被测样品测试
平均每个样品5min

 

 

400-600-5039