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2011中国科学仪器发展年会(ACCSI 2011)

     2011年4月26日,由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、仪器信息网联合主办,中国分析测试协会协办的中国科学仪器行业目前最高级别的峰会——“2011中国科学仪器发展年会(ACCSI 2011) ” 在北京京仪大酒店隆重召开。年会主办方在大会现场对“2010中国科学仪器优秀新产品”举行了隆重的颁奖仪式。精微高博获物性测试和光学仪器类“2010科学仪器优秀新产品”奖,表明精微高博的高性能比表面及孔径分析仪得到国内权威机构的普遍认可,达到了国内领先水平。

 

动态比表面仪

JW-D系列

动态比表面仪

测试范围:≥0.001m2/g
重复精度:±1.0%
同时进行4个被测样品测试
平均每个样品5min

 

 

400-600-5039