• 精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会
  • 浏览次数:314  时间:2018-05-15
  • 1.png

    精微高博参展CIBF第十三届中国国际电池技术交流会

    5月22-24日,CIBF第十三届中国国际电池技术交流会将于深圳会展中心开幕,北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪亮相。

     

    JW-BK200C是一款研究级高性能双站比表面及微孔分析仪,非常适合炭材料、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究应用。具有两个完全独立的微孔孔径分布分析站,可同时测试。此产品测试技术达到国际先进水平.


    2.png

    孔径范围  0.35-500nm

    比表面测试范围 >0.0001m2/g

    中值孔径重复精度 <0.02nm

    比表面重复精度  ±1%

     

    电池材料专用产品JW-DX

     

    JW-DX是目前国内外唯一一款采用吸附方法来测试BET比表面积的流动色谱法比表面分析仪器,能显著提高电池材料、医药辅料、无机粉体材料及各种粉体材料的比表面测定水平。每个样品独立进行吸附,测试精准。

    3.png

    氮分压P/P0范围  0.05-0.35

    比表面测试范围 >0.01m2/g

    测试重复精度  ±1%

    测试效率  5min

    参观指南

    时间:2018年5月22日-24日

    地点:深圳市福田中心区福华三路深圳会展中心,我们在8号馆等您哦

     

     

    精微高博展位号:8B041


    4.png

    联系我们

    北京经济技术开发区科创十三街12号德为科技园5号楼2层

    联系电话:4006005039

     

    www.jwgb.net

  • 相关阅读
    •  0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
      2nm-500nm(介孔及大孔分析)
      0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
      孔体积0.0001cm3/g-至无上限

       

     

    测试精度≤ ± 0.03%

    分辨率:0.0001g/ml

    重复性≤ ± 1%

  • 动态比表面仪
  • JW-D系列
  • 测试范围:≥0.001m2/g
    重复精度:±1.0%
    同时进行3个被测样品测试
    平均每个样品5min

     

     

    400-600-5039
  • 电话 400-600-5039 专家团队7*24小时为您服务
  • 电子邮件 sales@jwgb.net 技术支持/销售团队/索要报价
  • 在线咨询 工作日:早9点-晚9点 技术支持/销售团队/索要报价